成分分析に一般的に使用される検出機器ナノマテリアル含む：
1. ICP (誘導結合プラズマ): ICP は分析化学および材料科学の分野で広く使用されている技術です。これは、ナノマテリアル内の元素の含有量と組成を決定するために使用できます。サンプルをガス状イオンに変換し、生成されたプラズマスペクトルを使用して元素の濃度を測定します。 ICP-MS (誘導結合プラズマ質量分析計) は、ICP と質量分析技術を組み合わせて、ナノマテリアル中の極めて低濃度の元素を分析します。
2. XRF (X 線透視検査): XRF は、材料分析と非破壊検査に広く使用されている技術です。サンプルの表面または内部にX線を照射し、サンプル内の元素特性の蛍光放射を測定することにより、元素の組成を決定します。 XRF は、固体、液体、粉末サンプルを含むさまざまなナノマテリアルに適しています。
3. EDS (エネルギー分散型 X 線分光法): EDS は、電子ビームと材料内のサンプルの間の相互作用によって生成される X 線を測定することにより、サンプル内の元素の組成を決定する電子顕微鏡技術です。 EDS は、ナノマテリアルの表面組成分析を行うために、走査型電子顕微鏡 (SEM) と組み合わせて使用されることがよくあります。
